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フライングプローブテスタ APT-1340J / APT-1400F-SL

製品カタログ

タカヤ株式会社の最新技術を導入した多機能・高速フライングプローブテスタ(基板検査装置)

従来モデルよりプラットフォームを一新し、プローブ移動速度を最大50%アップさせるとともに、コンタクト位置精度を飛躍的に向上させました。フレキシビリティに富んだ新しい高精度・広範囲測定システムや、画期的な4ヘッド6フライングプローブ機構によって、基板品種・生産量を問わず、実装工程における検査コストの削減・品質向上に多大な効力を発揮します。

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このカタログについて

ドキュメント名 フライングプローブテスタ APT-1340J / APT-1400F-SL
ドキュメント種別 製品カタログ
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取り扱い企業 タカヤ株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧)

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このカタログの内容

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FLYING PROBE TESTER APT-1340J APT-1400F-SL 製品カタログ 超高速検査であらゆる不良を検出 世界トップシェアの圧倒的実力 大型基板にも対応できる 多彩なラインナップ Ultrafast Speed & High Performance
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FLYING PROBE TESTER APT-1340J / 1400F-SL タカヤAPTシリーズは、業界トップクラスの 超高速インサーキットテストが 可能な基板検査装置です。 高速駆動ロータリーモーターと通信制御により 従来モデルと比べ、プローブ移動速度を最大1.5倍にアップし 最速0.02秒ステップの高速検査を実現しました。 検査時間を従来モデルより30%以上短縮したことで、 さらなる検査コストの削減に貢献致します。 世界トップシェアの圧倒的実力 タカヤの強み 1 プローブコンタクト制御 2 検査領域拡大 3 スマートファクトリーに対応 4 あらゆる不良を検出できる測定システム 5 特殊形状基板に対応 6 拡張性も備わったファンクションテスト 7 AOI(画像検査) 8 +α 充実したオプション Ultra-high speed inspection.
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1 プローブコンタクト制御 mm 降下時 Max400mm/sec プローブの降下スピードは16段階でコントロールが可能です。FPCなど繊細なワークにおいては、プローブの高速動作は コンタクト時 維持しつつ基板コンタクトの瞬間に減速させ、衝撃を最小限に抑えます。また、ハンダ表面にフラックス被膜がある場合は Min10mm/sec ハードコンタクトを行い、検査の信頼性を向上させるなど、あらゆる基板において安定した検査を実現します。 2 検査領域拡大 3 スマートファクトリーに対応 独自の4ヘッド&6フライングプローブシステムに お客様の工場内ネットワークとの連結を容易 入退室管理 生産管理 システム システム よって標準4本の傾斜プローブに、2本の垂直 に行える、複数のインターフェースをご用意し プローブを追加できます。これにより、高い部品の ています。迅速かつ詳細なトレーサビリティ 間にあるコンタクトポイントや、上向きコネクタなど の確立、検査状況の可視化、問題への迅速な 従来アクセスできなかったポイントへコンタクトを 対応など、生産活動におけるQCD(品質、 MES 検査装置 可能とし、不良検出能力をより高められます。 コスト、納期)の継続的改善に貢献します。 他社設備 4 あらゆる不良を検出できる測定システム 5 特殊形状基板に対応 様々な検査対象に対応できるDC/AC測定システムを搭載しています。また、 独自設計の分割式クランプを採用しております。 本体測定ユニットの他に、すべてのフライングヘッドに小型測定ユニットを搭載 特殊形状の基板や、端面からコネクタや部品が しており、微少なインピーダンス・キャパシタンスであっても、ケーブル長やノイズ はみ出している基板でも、治具は不要です。 の影響を受けることなく、絶対的な精度と信頼性で測定が可能です。 6 拡張性も備わったファンクションテスト 7 AOI(画像検査) 標準でDC±20V/±1Aのソースメジャー 電流 カラーカメラを使ったAO(I 画像検査) ユニットを2つ搭載しており、2電源、4象限動作 Sink Source 機能を標準装備しています。インサー 電 (吸収) (供給) 電 による広範囲なファンクションテストに対応 圧 圧 キットテストでは検出できないバイパス します。オプションの電源ユニット追加で、 Source Sink コンデンサの欠品など、実装不良を光学 (供給) (吸収) 最大±80Vまで印加電圧を拡張できます。 的に検査します。 電流 8 +α 充実したオプション 01. LED発光検査 02. 部品高さ検出・コンタクト箇所自動補正 03. ICハンダ未接合検査 基板上のLEDを点灯させ、専用のセンサー レーザー光で基板面ならびに部品上面の高さを測定し、 ICのパッケージ上部にセンサープローブを を用いて発光色を読み取ります。目視では インサーキットテストでは検出できない実装不良を確実 設置し、IC内部から放射する微小な信号 識別困難なLED発光色の色相・彩度・輝度 に発見します。また、基板の反り量を読み取り、プローブ を読み取り数値化します。ICのリード浮き を数値化し、明確な判定基準で安定した のコンタクト位置を自動補正 不良や、BGAのボールハンダ未接合不良 検査ができます。専用治具は不要です。 する機能も有します。 を電気的に検出します。 04. 検査プログラム作成支援ソフト CADソフト 支援ソフト APT ダイレクト生成 独自開発の支援ソフトを活用いただくことで、お手持ちのCADソフトから出力された CADデータ、もしくはマウントデータから検査プログラムを自動生成できます。誰でも 従来 簡単に短時間で扱える操作性と、様 な々検査用途に対応する機能を追及しています。 変換 データ書き出し 検査
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ラインナップ !"#$%&'() !"#$%&'()$! !"#$%'((*$+, !"#$%'((*$+,$! モデル 標準モデル 大型モデル(SLシリーズ) オフライン インライン オフライン インライン 全体寸法・重さ !"#$$%&"'$$%("#$$)) !"#$$%&"'$$%("#$$)) !"'-$%&".-$%("#$$)) !"'-$%&".-$%("#$$)) "*'$+, "#$$+, "#'$+, "'$$+, 検査可能基板寸法 /'$0%0&'$))01 0/'#$0%0&#2*)) /'$0%0&'$))01 0/.*'0%0&."$)) 検査可能基板厚 $3.010'3$)) $3.010"$3$)) 搭載部品高さ(max.) 上面側 .$)) (※下面側は基板厚みを含む) 下面側 "-$)) 下面側 .$)) 下面側 "-$)) 下面側 .$)) 基板クランプスペース 上面:奥/手前の端面から *)) 下面:奥/手前の端面から *)) 下面:基板奥/手前の端面から 4)) 基板重量(max.) '+, *+, 2+, "$+, インライン機 実装ラインとの連結もしくはローダー /アンローダーの接続により、最速40m / minの連続自動検査体制を構築します。 搬送方向は左右どちらにも選択可能です。オペレータの負担軽減、省人化に貢献します。 インライン専用オプション 前後装置通信インターフェース / シャトルステーション / コンベア幅自動変更機能 基板搬入出シャッター / 自動機種切り替え機能 ローダー アンローダー 仕様 速度&精度 !"#$%&'()-.-!"#$%&'()$! !"#$%'((*$+,-.-!"#$%'((*$+,$! 検査速度(2.5mmピッチ移動時) コンビネーション:Max. 0.02秒/step コンビネーション : Max. 0.03秒/step シングル:Max. 0.05秒/step シングル : Max. 0.07秒/step プローブ位置決め繰り返し精度(XY) ±25 - ±40μm ±30 - ±40μm 最小コンタクトパッドサイズ 60 - 80μm 80 - 100μm 使用環境 搭載PC / OS Windows® PC( DVDドライブ、HDドライブ、キーボード、マウス付き)  OS:Windows 10 モニター & プリンター LCD:1920×1080 解像度  プリンター:小型サーマルプリンター(USB接続) 使用電源 & 使用エアー 電源:AC200~240V(単相)、 50/60Hz、最大2.8kVA  エアー:0.6~0.8Mpa(ドライエアー) 使用環境 温度:16~30℃(60~86℉)  湿度:30~75%(結露しないこと)  高度:1000m以下 オプション レーザー変位測定システム / LED カラーテストシステム / DC ±80V/±1A プログラマブルソースメジャーボードユニット ファンクションスキャナーボード / マーキングユニット / OKスタンプユニット / バキュームユニット 他
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構成 フライングプローブ 標準タイプ 傾斜プローブ4本 標準+シングル垂直Z軸タイプ 傾斜プローブ4本、垂直プローブ2本もしくはICオープン検出プローブ2本(排他取付) 標準+デュアル垂直Z軸タイプ 傾斜プローブ4本、垂直プローブ2本、ICオープン検出プローブ2本 下面側ターミナル(オプション) プローブ 3本(垂直プローブ、マグネットベース付き) シグナルターミナル ファンクションスキャナーボード利用時 8チャンネル(16ターミナル) パワーリレーボード利用時 3チャンネル(6ターミナル) MDAスキャナーボード利用時 32ターミナル ICオープン検出プレートプローブ 固定プレートプローブ4本(マグネットベース付き) プローブ仕様 タイプ:高性能スプリングプローブ、最大許容電流:2A、先端形状:ニードル、極小クラウン、角錐、カップ他 プローブ移動用モーター(XYZ軸) ハイスピードACサーボモーター&制御システム プローブ位置決め最小分解能 X-Y軸:1.25μm Z軸:5μm プローブ最小コンタクトピッチ 150~190μm 検査 測定信号(ボード印加可能信号) DC定電圧 / 定電流 -1 4象限ソース&メジャーシステム 最大±20V/±1A(※1) DC定電圧 / 定電流 -2 4象限ソース&メジャーシステム 最大±20V/±1A(※1) DC定電圧 / 定電流 -3 4象限ソース&メジャーシステム 最大±80V/±1A(オプション) AC定電圧 最大20Vpk / 100mApk f=1Hz~0.5MHz(正弦波、矩形波、三角波) 測定範囲 DC電圧 / 電流 ±125V / ±1A(※1) AC電圧 150mV ~ 75Vrms, f = 10Hz ~ 0.5MHz 周波数 1Hz ~ 20MHz / 2V ~ 20Vp-p 抵抗 5mΩ ~ 50MΩ キャパシタンス 0.5pF ~ 200mF インダクタンス 0.5μH ~ 500H インピーダンス / 位相角 2.5Ω ~ 3.3MΩ / ±90° トランス インダクタンス、巻線比、位相差 PN接合VF測定 0.1V ~ 40V ツェナーダイオード電圧 0.1V ~ 40V( max.80V, オプション) オープンチェック 閾値5Ω ~ 50MΩで設定可能(標準100Ω以上) ショートチェック 閾値1Ω ~ 500KΩで設定可能(標準10Ω以下) ダイオード / トランジスタ / FET PN接合VF測定、ONテスト、ゲイン、特性 リレー / フォトカプラー / スイッチ素子 ONテスト ICリード浮き PN接合VF測定、ICオープン検出プローブによる検出(オプション) 発光LED(オプション) 色相、彩度、輝度 良否判定範囲設定 基準値に対して-999.9 ~ +999.9%、絶対値 検査ステップ数 最大 350,000ステップ ※1 最大電流はファンクションスキャナーボード(オプション)を挿入すると2Aまで増加させることができます。 ※記載している会社名および製品名は、それぞれ各社の登録商標もしくは商標です。 ※製品仕様、外観、色等をお断りなく改正・改訂することがありますが、ご了承願います。 ビジョンテストシステム TOS-7F カメラ 1/3" CCD カラーデジタルカメラ, 視野範囲:約 10×8mm 照明 リング状白色LED照明, 256段階で明るさ制御可能 機能 コンタクト位置アライメント, 外観簡易検査, バーコード又は二次元コード読み取り, カラーリアルマップ, その他 外観簡易検査項目 部品の有無、位置ズレ、異種装着、極性、部品色検査 など 検査画像数 最大 2,000画像
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事業開発本部 産業機器事業部 本社 〒715-8503 岡山県井原市井原町661-1 TEL / 0866-62-1870 FAX / 0866-62-1886 MAIL / ie_bus@takaya.co.jp WEBサイト 東京営業所 〒108-0074 東京都港区高輪2-16-45 高輪中山ビル 1F TEL / 03-5449-7044 大阪営業所 〒532-0011 大阪府大阪市淀川区西中島3-11-26 Auroraビル新大阪7F TEL / 06-6309-7366 福岡営業所 〒812-0878 福岡県福岡市博多区竹丘町2-5-10 柿原ビル1F TEL / 092-592-5670