非接触＆非破壊式の蛍光X線式膜厚測定・素材分析器　FISCHERSCOPE(R) X-RAY XDAL/XDVシリーズ

Leaflet 薄膜メタライズ・高機能性めっきの 高速膜厚測定 非接触＆非破壊式の蛍光X線式膜厚測定・素材分析器 FISCHERSCOPE®X-RAY XDAL/XDVシリーズ 高速測定と高精度測定を両立 高性能ハードウエアが理想的な励起条件と検出感度を実現 高精度かつ長期安定性は再校正に必要な時間と労力を大幅に削減 FISCHERのFP法は、より簡単高精度で膜厚測定と素材分析を提供

永年の技術と経験で ‘使いやすさ’ を追及 統合解析ソフトウエア WinFTM® アンリツ株式会社 長寿命・高性能の マイクロフォーカス管球 パ設ー定・ト測定・ナ解析ーからレポートまで ランニングコスト・ 使い易さにこだわった統ソ合ソリフトウュエアーションダウ事ンタ業イムの負担を軽減 over 5G/IoT, for customer innovation, with global partner. 画像認証による位置補正機能で 大量の試料も連続自動測定可能 画像認証 高速X-Yテーブル 豊富な標準板ラインナップ 画像による直感的な測定ポイント決め 約400種類のラインナップ 高精度測定を極限まで追求 非密閉式の Cスロット形状 ビデオ顕微鏡とレーザポインタで画像を見ながら 位置決めが可能。座標を気にせず連続的に 測定ポイントをプログラムできます 2cmの段差も測定可能にするDCM法（特許） 様々な大きさ・高さの測定物も非破壊で測定可能 製品名 測定元素 サンプル Ｘ線 Ｘ線管球 コリメーター数 範囲 ステージ 検出器 (tube) ／サイズ 特長／アプリケーション 比例 4種 ■汎用性の高いスタンダードモデル XDLM® Ca（20） 計数管 Φ0.1～ ■コネクター、接点部品の膜厚測定 237 ～U（92） （PC） Φ0.6mm ■部品・半導体産業での機能性多層 電動XYZ マイクロ 膜測定 プログラマブル フォーカス Al（13） ポリキャピラリ ■極薄膜や多層膜の検査（電子・半 XDV®-μ ～U（92） 三択 導体産業など） シリコン Φ10～ ■プリント回路基板、コンタクトピン、 ドリフト Φ20μm リードフレームなどの非常に小さい平らな （SDD） 部品や構造部分の測定 ■携帯可能な蛍光X線式の膜厚測 XAN®500 S（16） 固定 1種 定および素材分析測定装置 （ハンドヘルド （BOX使用 スタンダード ■バッテリ駆動時間6時間 型蛍光Ｘ線 ～U（92） 時） Φ2.0mm ■貴金属のハンドヘルド測定 式測定器） ■めっき工場の現場に携帯し測定 アンリツ株式会社 環境計測カンパニー 営業本部 パートナーソリューションチーム 〒243-8555 神奈川県厚木市恩名5-1-1 TEL：046-296-6661 URL：https://www.anritsu.com No. ES-GPB21220-02 メールアドレス：contact-ps@anritsu.com ※本資料は2019年10月時点のものであり、記載事項はおことわりなしに変更することがあります。