大塚電子株式会社のカタログ一覧

ゼータ電位・粒径・分子量測定システム　ELSZ-2000シリ...

希薄系から濃厚系の高精度な粒子系・ゼータ電位測定　さらに固体表面、分子量の評価まで

◆広範囲な分子量測定および解析機能を追加 ◆長年のキャリアに培われた信頼性の高いデータをご提供します。 ◆詳細はカタログをダウンロードしてご覧下さい。

【測定時間1秒！】顕微分光膜厚計　OPTM series

これからは非接触・非破壊・顕微で測定時間1秒！

顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚・光学定数解析が可能な装置です。 各種フィルムやウェーハ、光学材料などのコーティング膜の厚みや多層膜を非破壊・非接触で測定できます。測定時間は1秒/pointの高速測定が可能で初めての方でも...

キャピラリ電気泳動システム　Agilent 7100

毎日のクロマト分析を、さらに手軽にスピーディに

陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。 微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能です。 ◆詳細はカタログをダウンロードしてご覧下さい。